更新的分辨率测试卡ISO15739：2013标准具有与f-stop噪点类似的噪点，SNR和动态范围定义，但是还是具有一些非常重要的区别。信噪比的ISO定义（§6.2.3-6.2.5和附件D）是
SNR=Q=gL/σ
其中σ=以像素为单位的噪点，L=亮度（线性），g是OECF的一阶导数（像素级与亮度曲线）。
g=d（像素级）/dL
虽然从标准中不能明显的看出，L必须按照§6.2.2中定义的Lref进行缩放（乘以）。这个等式的数字版本在附件D中给出。
当分辨率测试卡ISO15739的SNR显示在多线性测试卡，多线性测试或分辨率测试卡eSFRISO中，可以将其与较早的Imatestf-stop计算进行比较。结果是相似的（尽管不完全一样）。
说明：PXL（同=像素级OL。在ISO标准=输出电平）
σPX=噪点像素（注意：标准偏差σ。相当于RMS噪点）
L=照明或暴露水平（单位将不会是重要的。）
光圈级数=日志
LF-停止噪点=σFST=σpx/(d(pxl)/d(F-stops))=σpx/(d(pxl)/d的(log2l))光圈SNR=SNRFST=1/σFST=(d(pxl)/d(log2l))/σPX我们将应用方程，d(对数b(x))/dx=1/(XLN(B))，其中Ln(2)=0.6931=1/1.4427。现在，从ISO标准，增量增益=gl=d(pxl)/dl(注线性单位)=d(pxl)/d(log2l)·d(log2l)/dl=1.442(d(pxl)/d(log2l))/l。ISO15739标准的附录D将总信噪比定义为SNRISO=Lgl/σPX=1.4427L(d(Pxl)/d(log2l))/(LσPX)=1.4427(d(Pxl)/d(log2L))/σPX这就导出：
SNRISO=1.4427SNRFST
SNRISO优于SNRFST的一个因素1.4427，或等价，3.18分贝。
噪音的数学（只是味道）
振幅分布
在大多数情况下，包含噪点的像素或密度变化可以通过正态分布进行建模。这是熟悉的高斯或“钟”形曲线（蓝色右侧），其概率密度函数是f(x)=exp(-(x-a)2/2σ2)/sqrt(2πσ2)其中，exp(...)表示e=2.71828...提高到幂，a是x的平均值，σ是标准偏差。σ正比于分布的宽度：对于正态分布，样品的约是68％±σ之间；95.5％-±2σ之间；99.7％-±3σ之间等对于一组Ñ样Xi均值Xm，该标准偏差是噪点通常作为RMS测量（均方根）电压或像素级的参数，其中RMS相当于标准偏差。RMS噪点电压是噪点功率的平方根。平方根中的值也称为方差。噪点随像素级别而变化，即，在具有不同色调值的区域中不同。正常曲线来自一个名为中心极限定理的数学结果：当变量（如电压或像素级）受到大量扰动的影响时，总体密度函数接近正态曲线，而不管个人扰动。这就是为什么正常曲线是迄今为止最常见的概率分布的原因。但正常分配不适用于所有情况。对于低光级（低光子计数），其中正态分布可能导致负数，泊松分布（红色在上图中）给出正确的结果。f(s)=exp(-m)ms/s！其中m是平均，s≥0是整数，和s!="sfactorial"=(s)(s-1)(s-2)…(1)。标准偏差为σ=sqrt(m)。柯达出版物“CCD图像传感器噪点源”中描述的镜头（光子）噪点具有泊松统计。对于m的大值，泊松分布接近正态分布。
